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波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
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ESS01 波长扫描式 自动变角度光谱椭偏仪
ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱
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快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
。 ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如
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波长扫描式 多入射角光谱椭偏仪
)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数ε等),也可用于测量块状材料的光学参数。 ESS03是针对科研和工业环境中薄膜测量领域推出的波长扫描式高精度多入射角光谱椭偏仪,此系列仪器的波长范围
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快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪(光伏专用)
高性能光谱椭偏仪。 ES01-PV是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。ES01-PV用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n
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ES01 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如
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ES01-PV 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪(光伏专用)
ES01-PV是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。ES01-PV用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),典型
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
薄膜材料的快速测量表征。支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。 产品简介:SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的
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光谱椭偏仪
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